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MHS400V-4P探針冷熱臺是一款專門針對半導(dǎo)體芯片研發(fā)、測試而設(shè)計的產(chǎn)品。這款探針冷熱臺擁有高精度的探針位移平臺，具有良好的真空性能和精準(zhǔn)的溫控系統(tǒng)。

MHS-P600G探針冷熱臺是一款針對材料研究過程中變溫電學(xué)測試而設(shè)計的產(chǎn)品，可表征材料升溫和降溫階段，其電學(xué)性能隨溫度變化的特征。 熱臺可以搭配顯微鏡，光譜儀，XRD等光學(xué)設(shè)備。 MHS-P600G可以在-196℃~600℃之間快速且精準(zhǔn)的控制樣品的溫度，實(shí)現(xiàn)樣品在氣密環(huán)境下的變溫光學(xué)觀察及測試。

PSM-LN2系列液氮高低溫探針臺能夠為半導(dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個80K-800K高低溫真空測試環(huán)境，通過外接不同的電學(xué)測量儀器，可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及IV曲線等參數(shù)檢測，用于低溫真空環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。

PSM-4K系列低溫探針臺是一款閉循環(huán)低溫探針臺，緊湊型及低振動的設(shè)計，能夠為半導(dǎo)體芯片的電學(xué)參數(shù)測試提供一個＜5K-350K高低溫真空測試環(huán)境，通過外接不同的電學(xué)測量儀器，可完成材料/器件的IV、CV、光學(xué)以及微波等參數(shù)檢測，實(shí)現(xiàn)低溫真空環(huán)境下的芯片、晶圓和器件的非破壞性電學(xué)測試。

廣泛用于圖象表征各種熱轉(zhuǎn)變過程，能夠直接用于觀察樣品在加熱或冷卻過程中的形態(tài)變化以及結(jié)晶過程中形狀、結(jié)構(gòu)、顏色以及大小和數(shù)量的變化

BM600G-4P探針冷熱臺是一款針對半導(dǎo)體芯片研發(fā)，測試而專門設(shè)計的產(chǎn)品。熱臺擁有高精度的探針位移平臺。